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FT 平移式分选装备

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FT 平移式分选装备

CIS（CMOS Image Sensor）平移分选测试机是一种用于CMOS图像传感器芯片的自动化测试与分选装备 ，主要应用于半导体制造的后道工序。 。。其焦点功效是通过高精度平移机械臂将芯片移动到测试工位 ，完成电性测试、、、光学性能测试。 。。

应用场景: CIS ，光通讯 ，MEMS ，存储芯片 ，功率器件等。 。。

产品咨询电话：：：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：：：jian.mao@incubecn.com

  • 顺应芯片封装规格：：：QFP, BGA, Micro-BGA, PLCC, TSOP, CSP, PGA

  • 专为TT时间长的大批量生产设计的多位测试能力

  • 更高的UPH知足快速生产需求

  • 在大规模运行中仍坚持低故障率

  • 高精度视觉对位取放料

  • 自动调解产品取放吸吹力

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