主要应用于光通讯、高功率激光芯片等巴条外观检测；；；检测缺陷类型：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;

AOI-LD 410 机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，，应用于Bar制程中的缺陷检查，，节约人力，，提升制程品质稳固性。
。本系统基于细密运动和减震平台，，搭载纳米级光学系统，，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法连系，，完成芯片取放，，AR面/HR面/P面/N面的检查，，识别Bar编号和关联对应输有缺陷信息;

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