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全自动芯片周围外观检测装备

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全自动芯片周围外观检测装备

主要应用于光通讯、高功率激光芯片等单芯片外观检测；检测缺陷类型：：：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;

AOI-LD420机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，应用于Chip晶粒制程中的缺陷检查，节约人力，提升制程的品质稳固性。。。本系统基于细密运动和减震平台，搭载纳米级光学系统，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法连系，完成芯片取放，AR面/HR面/P面/N面的检查，识别芯片编号和关联对应输有缺陷信息;

产品咨询电话：：：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：：：jian.mao@incubecn.com

  • 易操作，快速建模，类似产品可自动天生模板

  • 基于深度学习的缺陷检测+古板算法辅助，参数可自由设定卡控

  • 支持离线复判，支持报表订制修改

  • 可实现不破膜取料，降低产品损伤率

  • 可实现订制吸嘴，减小压伤风险

  • 纳米级高精度光学检测平台

  • 定制镜头，支持选配微弱解理纹专项检测

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