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全自动巴条周围外观检测装备

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全自动巴条周围外观检测装备

主要应用于光通讯、高功率激光芯片等巴条外观检测；；检测缺陷类型：：：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;

AOI-LD 410 机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，，，应用于Bar制程中的缺陷检查，，，节约人力，，，提升制程品质稳固性。本系统基于细密运动和减震平台，，，搭载纳米级光学系统，，，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法连系，，，完成芯片取放，，，AR面/HR面/P面/N面的检查，，，识别Bar编号和关联对应输有缺陷信息;

产品咨询电话：：：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：：：jian.mao@incubecn.com

  • 易操作，，，快速建模，，，类似产品可自动天生模板

  • 基于深度学习的缺陷检测+古板算法辅助，，，参数可自由设定卡控

  • 支持离线复判，，，支持报表订制修改

  • 双工位同时检测，，，效率提升

  • 纳米级高精度光学检测平台

  • 定制镜头，，，支持选配微弱解理纹专项检测

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